光伏組件pid測試背景

光伏組件由高效晶體硅太陽(yáng)能電池片、超白布紋鋼化玻璃、eva(ethylene vinyl acetate copolymer，乙烯-醋酸乙烯共聚物)膜層、透明tpt(tedlar/pet/tedlar，聚氟乙烯復合膜)背板以及鋁合金邊框組成。光伏發(fā)電系統的系統電壓對光伏組件存在持續的“電位誘發(fā)衰減(potential induced degradation，pid)"效應，高效晶體硅太陽(yáng)能電池片通過(guò)封裝材料對光伏組件的邊框形成回路造成漏電流，導致光伏組件發(fā)電性能下降。因此，對待出廠(chǎng)的光伏組件進(jìn)行pid測試具有重要意義。

光伏組件pid測試方法

PID測試有兩種加速老化的方法：

1）在特定的溫度、濕度下，在組件玻璃表面覆蓋鋁箔、銅箔或者濕布，在組件的輸出端和表面覆蓋物之間施加電壓一定的時(shí)間。

2）在85%濕度85℃或者是60℃或85℃的環(huán)境下將-1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上48~96小時(shí)。

光伏組件pid測試標準

PID 測試標準引自 IEC 62804 （Draft） 根據IEC61730-2 MST 01進(jìn)行外觀(guān)檢測；

根據IEC61215第二版進(jìn)行最大功率測試；

根據IEC61215第二版條目10.15進(jìn)行濕漏電流測試；

如果組件有裸露的導電部位，則要根據IEC61730-2 MST13進(jìn)行接地連續性測試

光伏組件pid測試服務(wù)優(yōu)勢

1.國科控股旗下獨立第三方檢驗檢測機構。

2.豐富的政策解讀、行業(yè)調研及實(shí)戰經(jīng)驗。

3.與相關(guān)政府部門(mén)及行業(yè)協(xié)會(huì )長(cháng)期密切合作。